IC内置熔丝熔断方法

• 作者: 孙明 陆强
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 测试程序 熔丝熔断 可编程逻辑电路
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 3479字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.07.007

摘要

集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求.低成本、高灵活性的熔丝结构由此得到了大范围的应用.熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加.在编写测试软件时,传统方法是机械地用if...else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差.文章在总结传统测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断IC内置熔丝的新方法.通过寻找实际测量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2n的熔丝熔断分析缩减至n次熔丝熔断分析.这种做法使程序简洁而又逻辑性强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆强		2	8	2.0	2.0
2	孙明		1	2	1.0	1.0