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倒装芯片下填充工艺的新进展(一)
倒装芯片下填充工艺的新进展(一)
作者:
郭大琪
黄强
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
倒装芯片
材料
可靠性
下填充
摘要:
为了增加在有机基板上倒装芯片安装的可靠性,在芯片安装后,通常都要进行下填充.下填充的目的是为了重新分配由于硅芯片和有机衬底间热膨胀系数失配产生的热应力.然而,仅仅依靠填充树脂毛细管流动的传统下填充工艺存在一些缺点.为了克服这些缺点,人们研究出了一些新的材料和开发出了一些新的工艺.
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文献信息
篇名
倒装芯片下填充工艺的新进展(一)
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
倒装芯片
材料
可靠性
下填充
年,卷(期)
2008,(1)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
16-20
页数
5页
分类号
TN305.94
字数
5290字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2008.01.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
郭大琪
12
56
4.0
7.0
2
黄强
18
152
5.0
12.0
传播情况
被引次数趋势
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研究主题发展历程
节点文献
倒装芯片
材料
可靠性
下填充
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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