平板裂缝天线子阵形变后的方向图分析

• 作者: 余伟 郭先松 顾卫军
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 平板裂缝天线 子阵形变 子阵方向图
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 天馈伺系统
• 页码范围: 70-73
• 页数: 4页
• 分类号: TN823+.24|TN820.1+2
• 字数: 1719字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7859.2008.12.019

摘要

子阵方向图对平板裂缝天线的工作性能有着重要的影响.本文给出了常用的子阵设计方法,并针对可能出现的形变,提出了从单元位移和幅相的变化来分析子阵形变后的方向图的方法,分析结果表明:位移主要对主瓣宽度的影响较大,而幅相的变化主要对副瓣的影响较大.文中讨论、分析了子阵在不同形变情况下的方向图主瓣宽度、副瓣电平等性能,并给出了相应的理论结果和仿真结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭先松		11	40	4.0	5.0
2	余伟		4	11	2.0	3.0
3	顾卫军		2	21	2.0	2.0