荧光磁粉探伤缺陷识别系统的研究现状与关键技术

• 作者: Zeng Dewen 赵万民
• 来源期刊: 铁道机车车辆工人
• 学科: 交通运输
• 关键词: 荧光磁粉探伤 缺陷识别系统 技术
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: U270.7
• 字数: 2797字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-6042.2008.08.001

摘要

介绍了荧光磁粉探伤的原理和特点以及研究现状;分析了荧光磁粉探伤缺陷识别系统的关键技术.