密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究

• 作者: 杨传铮 程国峰 黄月鸿
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 物理学
• 关键词: ZnO 晶粒大小 层错几率 X射线衍射(XRD)
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 199-202
• 页数: 4页
• 分类号: O72|O766|O77
• 字数: 3198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2008.01.039

摘要

X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hk0、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨传铮	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	33	168	7.0	11.0
2	程国峰	中国科学院上海硅酸盐研究所	16	107	5.0	10.0
3	黄月鸿	中国科学院上海硅酸盐研究所	8	32	3.0	5.0