靶丸表面缺陷对功率谱影响的数值模拟

• 作者: 唐永建 杨蒙生 马小军 高党忠
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: ICF 靶丸 颗粒缺陷 功率谱 模数
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 1465-1468
• 页数: 4页
• 分类号: TL61
• 字数: 2856字
• 语种: 中文

摘要

对ICF靶丸表面"颗粒状"缺陷与功率谱的关系进行了理论研究,采用Matlab软件,数值模拟分析了靶丸表面颗粒的高度、粒径、分布、颗粒数目以及随机噪声等对功率谱曲线的影响.数值模拟结果表明:靶丸表面缺陷对功率谱影响较大,缺陷高度的增加、粒径的减小以及数目的增加都会导致功率谱起伏增大;同时,缺陷高度导致的功率谱起伏变化比缺陷粒径对功率谱的影响更为严重,而缺陷数目的增加不但导致功率谱起伏的增大,同时也引起功率谱曲线中呈现一些周期性的特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐永建	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	281	2334	24.0	31.0
2	马小军	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	36	107	5.0	8.0
3	高党忠	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	44	290	11.0	15.0
4	杨蒙生	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	17	53	3.0	7.0