HfF4样品的干法制备

• 作者: 姜涛 杨君
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 干法制备 样品 加速器质谱 测量能力 质谱分析 氧同位素 强度降低 制备技术
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 137
• 页数: 1页
• 分类号: P632.1

摘要

Hf的加速器质谱分析要求必须提供纯度极高的HfF4样品，以便获得足够多的HfF5^-离子流来进行测量。氧同位素等杂质会导致产生HfF3O^-，HfFO2^-等无测量价值的离子流，造成HfF5^-束流强度降低，使测量能力下降。“干法”制备技术有助于获得纯度高、无氧和水等杂质的HfF4样品，从而改善加速器质谱的测量效果。