密码系统差分功耗分析攻击及功耗模型

• 作者: 丁国良 褚杰 赵强 邓高明
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 密码系统 差分功耗分析(DPA) 功耗模型 静态互补金属氧化物半导体 数据功耗相关性 数据加密标准(DES)
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与控制工程
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TP309
• 字数: 3068字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2008.06.006

摘要

为了证明密码系统运行时功耗泄漏包含系统密码信息,分析了静态互补金属氧化物半导体(CMOS)门数据功耗相关性,通过对AT89C52单片机实现的数据加密标准(DES)密码系统进行差分功耗分析(DPA)攻击,在64h内获得了DES第16轮加密的48 bit密钥.攻击结果表明:AT89C52中静态CMOS门状态由0到1和由1到0翻转电能消耗不同,静态CMOS门不同位置的负载电容之间存在差异.提出了寄存器负载电容充电功耗模型,解释了攻击现象,明确了DPA攻击的物理基础,为密码系统实施相关防护措施提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁国良	军械工程学院计算机工程系	58	277	9.0	12.0
2	赵强	军械工程学院计算机工程系	70	443	11.0	15.0
3	褚杰	军械工程学院计算机工程系	26	229	7.0	14.0
4	邓高明	军械工程学院计算机工程系	31	218	10.0	12.0