基于"Good"测试套件的GUI回归测试优化

• 作者: 李波 洪玫 魏冬梅
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 回归测试 "Good"测试套件 覆盖标准 GUI
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 智能、算法、系统工程
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP206+.1
• 字数: 3730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2008.07.001

摘要

回归测试在软件测试过程中是非常重要的,同时也是非常费时费力的.为了适应软件测试的需求,提高回归测试的效率,降低测试成本,针对目前GUI回归测试的困难,依据Atif M.Memon等人提出的新的回归测试方法,根据一个."Good"的测试套件对测试成本和"fault-detection effectiveness"的影响,突出一个"Good"的测试套件的特点,给出一个新的回归测试方法.该方法根据测试套件的特点,有针对性地选择合适的测试用例来构建回归测试套件.这样不仅有针对性,同时也优化了测试套件,提高了测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李波	四川大学计算机学院	247	1271	17.0	24.0
2	洪玫	四川大学计算机学院	65	355	11.0	16.0
3	魏冬梅	四川大学计算机学院	17	124	5.0	11.0