中子应力谱仪准直器的模拟计算

• 作者: 刘丽鹃 李建 王晓影 谢超美
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 中子应力谱仪 准直系统 McStas 强度 分辨率
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 分析测试技术和方法
• 页码范围: 111-113
• 页数: 3页
• 分类号: TH73
• 字数: 2342字
• 语种: 中文

摘要

为了能具体了解准直器系统对中子应力谱仪的性能参数如:样品处中子注量率、谱仪分辨率等主要指标的影响,对安装于中子应力谱仪上的准直器系统进行模拟和计算.通过设定和优化各个准直器参数.分析它们对谱仪性能指标的影响.模拟过程中,我们主要采用了McStas软件来进行建模及优化计算工作,通过对第一、第二准直器等主要部件的发散度参数α1、α2和长度的组合变化来发现它们对谱仪整体的影响,并且计算它们引起的分辨率改变,最终我们得到在α1:α2=30'下样品处水平方向中子注量率可以达到2.3×106n·cm-2·s-1,垂直方向可达3.5×106n·cm-2·s-1,并且当第一、第二准直器发散角α1:α2=10'时谱仪可以得到它的最好分辨率Fw=0.2,它所对应的应变误差值是应力谱仪测量的最小误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘丽鹃	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	22	3.0	4.0
2	李建	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	21	29	3.0	5.0
3	谢超美	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	13	25	3.0	4.0
4	王晓影	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	7	10	2.0	3.0