电光采样(EOS)法测量超短电子束束团长度中的模拟计算与误差分析

• 作者: 唐坤 孙大睿 徐金强
• 来源期刊: 中国物理C（英文版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 电光采样 超短脉冲电子 束团长度测量
• 年，卷（期）: 2008,（z1）
• 所属期刊栏目: 束流测量、控制、辐射防护
• 页码范围: 121-123
• 页数: 3页
• 分类号: O4
• 字数: 2412字
• 语种: 英文

摘要

随着高能物理的发?高能量正负电子对撞机,射线自由电子激光器,先进的同步光源等,都需要产生高流强超短脉冲的相对论电子束团.于是,亚皮秒电子束束团诊断成为加速器物理新发展的关键技术,电子束长度的监测是其中的一部分.电光采样(EOS)法测量超短电子束团长度有非侵入、非破坏、实时测量的特点,具有较好的应用前景.本文介绍该方法的原理,通过模拟计算分析电子束束团与探测光间距、电子束电场与电光晶体晶轴夹角、探测光偏振方向与电光晶体晶轴夹角等实验参数与束团长度测量的关系,做系统误差分析,对实际实验有指导意义.