一个基于扫描方法的DFT设计与实现

• 作者: 张炜杰 段春丽 沈怿皓 赖宗声 陈亦灏
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 可测性设计 扫描测试 扫描链 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 169-172
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

DFT技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分.详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对一个32位FIFO存储器电路实例进行扫描设计.根据扫描链的特点和电路多时钟域问题,采用了三种设计方案,整个流程包括了行为级Verilog代码的修改、扫描设计综合以及自动测试模板产生(ATPG).对不同的设计方案给出了相应的故障覆盖率,并对生成的模板进行压缩优化,减少了测试仿真时间.最后分析了导致故障覆盖率不同的一些因素和设计中的综合考虑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖宗声	华东师范大学微电子电路与系统研究所	136	779	13.0	18.0
2	沈怿皓	华东师范大学微电子电路与系统研究所	5	28	3.0	5.0
3	张炜杰	华东师范大学微电子电路与系统研究所	2	9	2.0	2.0
4	陈亦灏	华东师范大学微电子电路与系统研究所	6	25	4.0	4.0
5	段春丽		1	5	1.0	1.0