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摘要:
静电放电(ESD)是数控系统损坏失效的主要因素.论述了ESD的产生原因以及危害与影响.探讨了ESD防护措施以及静电放电抗扰度试验.
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文献信息
篇名 数控系统的静电防护设汁
来源期刊 电子质量 学科 工学
关键词 ESD、抗扰度 人体模型 脉冲电流
年,卷(期) 2008,(7) 所属期刊栏目 电磁兼容
研究方向 页码范围 81-83
页数 3页 分类号 TN70
字数 2888字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.07.028
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 梁玉杰 上海交通大学电子信息与电气工程学院 2 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
ESD、抗扰度
人体模型
脉冲电流
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
广州市五羊新城广兴花园32号一层
46-39
1980
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
论文1v1指导