GTEM小室性能测试方法

• 作者: 吴淑忠 舒志强
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: CTEM 小室 时域阻抗 驻波比 场均匀性 屏蔽效能屏
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 实验室特写
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TM937
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.10.022

摘要

文章在GTEM小事原理及其应用的基础上详细介绍了GTEM小室的性能指标,并结合具体测试给出了GTEM小室性能测试方法.结果表明,本测试方法所使用的时域阻抗、电压驻波比、场均匀性及屏蔽效能这四个指标能够较好地反映GTEM小室的技术性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴淑忠	西安电子科技大学机电工程学院	8	32	2.0	5.0
2	舒志强	西安电子科技大学机电工程学院	2	27	2.0	2.0