使用TEM小室进行集成电路的辐射发射测量

• 作者: 方文啸 肖猛
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 透射电子显微镜 集成电路 辐射发射 测量
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 赛宝质量安全检测中心专栏
• 页码范围: 77-80
• 分类号: TN16|TN03
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.018

摘要

介绍了使用透射电子显微镜(TEM)小室对集成电路进行辐射发射测量的方法,重点阐述了TEM小室、射频测量仪器、预放和集成电路测试用PCB等测试系统构成部分,环境条件以及测试步骤等内容.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖猛		7	4	1.0	2.0
2	方文啸		5	25	2.0	5.0