基于泊松分布的集成电路寿命计算

• 作者: 张家亮 张颖 王建业 王海龙
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 浴盆曲线 泊松分布 失效率 平均无故障时间
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 导弹与制导技术
• 页码范围: 71-74
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.15892/j.cnki.djzdxb.2018.03.017

摘要

集成电路的平均无故障时间(MTBF)是判断系统可靠性的主要指标,文中提供了一种计算MTBF的有效方法.首先介绍了集成电路失效的一般规律,即满足浴盆曲线的规律;其次分析验证了集成电路的使用寿命问题是满足泊松分布的.基于这两个条件,提出了一种计算集成电路MTBF的算法.根据集成电路74HC00的一组故障时间,计算了其平均无故障时间.验证了所提供方法的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建业	空军工程大学防空反导学院	44	185	8.0	11.0
5	王海龙	空军工程大学防空反导学院	8	16	3.0	3.0
9	张颖	空军工程大学防空反导学院	6	11	2.0	3.0
10	张家亮	空军工程大学信息与导航学院	1	0	0.0	0.0