如何保证集成电路的测试质量

• 作者: 叶新艳
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 集成电路测试 硬件 软件 结果分析 管理
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.03.011

摘要

阐述了集成电路的测试过程中，如何保证其测试质量的几个方面的问题。内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶新艳		1	4	1.0	1.0