大规模集成电路测试程序质量控制方法研究

• 作者: 唐锐 孙宇 王小强
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 集成电路 集成电路测试程序 开发过程 影响要素 评审
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 55-59
• 页数: 5页
• 分类号: TN47.07
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.04.011

摘要

集成电路测试程序是集成电路测试的最基本的要素,测试程序的质量直接影响到测试的质量.对大规模集成电路的测试程序的开发过程及影响因素进行了研究,并提出了一套集成电路测试程序质量控制方法,从而保障了集成电路测试程序的质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王小强		35	41	3.0	4.0
2	孙宇		16	16	2.0	3.0
3	唐锐		5	6	1.0	2.0