改进的大规模集成电路测试方法

• 作者: 何振中 李春伟 陈新武
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 内建自测试 每时钟测试 测试向量压缩
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 308-312
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2209字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2007.04.017

摘要

为了提高大规模集成电路可测性设计(Design For Test,DFT)的故障覆盖率,减少测试时间,通过分析自我测试(Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG,STUMPS)方法中的测试机制,找出了其测试效果不理想的原因,提出了改进型的大规模集成电路的测试方法,用C语言编写了故障模拟程序,并且在ISCAS'85标准测试电路上进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈新武	华中科技大学多谱信息处理技术国防重点实验室	27	87	5.0	8.0
2	李春伟	宁夏大学物理电气信息学院	4	6	2.0	2.0
3	何振中	宁夏大学物理电气信息学院	7	8	2.0	2.0