超大规模集成电路中的可靠性技术应用与发展

• 作者: 孔学东 恩云飞
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 超大规模集成电路 系统芯片 可靠性
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与评价
• 页码范围: 2-5
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.02.001

摘要

论述了大规模/超大规模集成电路可靠性技术的应用与发展,重点强调在大规模/超大规模集成电路中可靠性技术的地位和作用,对"十五”超大规模集成电路可靠性的发展提出了思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	恩云飞		37	304	10.0	14.0
2	孔学东		16	184	6.0	13.0