半导体集成电路电源拉偏测试研究

• 作者: 周圣泽 唐莎 唐锐 罗宏伟 蔡志刚
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 集成电路 电源拉偏测试 参数
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TN43|TP206+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2018.04.003

摘要

半导体集成电路产品的详细规范或数据手册中一般都规定了电源拉偏要求.为了达到该要求,一般而言,IC产品的测试应覆盖电源电压规定的范围,直观的解决方案就是在所有可能的电源电压条件下对所有的参数进行测试和验证.但是在实现过程中,考虑到测试效率和测试成本等因素,需要确定不同门类产品各类参数的最坏电源电压条件,从而进行针对性的拉偏测试,用于提高测试效率并降低成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗宏伟		27	98	5.0	9.0
2	唐锐		5	6	1.0	2.0
3	周圣泽		3	6	1.0	2.0
4	唐莎		4	8	1.0	2.0
5	蔡志刚		6	11	2.0	3.0