结构相似性原理在半导体集成电路检验中的应用

• 作者: 许斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 结构相似性 集成电路 分组 检验方案
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术评价
• 页码范围: 44-45
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.04.013

摘要

介绍了如何应用结构相似性程序对半导体集成电路的最终检验进行分组和试验,从而提高检验效率,降低检验成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许斌		2	2	1.0	1.0