集成电路电磁兼容标准概述

• 作者: 樊文琪 蔡少英
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电磁兼容 集成电路 半导体 标准
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容设计与检测
• 页码范围: 47-52
• 页数: 6页
• 分类号: TN03|TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.02.013

摘要

随着集成电路新技术与应用的结合,增加了电磁兼容(EMC)符合性的复杂程度,对IC EMC性能的表征受到越来越多的关注.由此推动了对标准化测量规程的需求,使不同器件有一致的评价和比较.对标准化的需求进行了讨论,介绍了IEC 47/SC 47 A第9工作组在IC发射与抗扰度EMC试验方法标准化方面的工作进展情况,并探讨了IC EMC的发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡少英		7	30	3.0	5.0
2	樊文琪		6	18	2.0	4.0