集成电路电磁兼容测试方法标准化概述

• 作者: 周志 屈省源
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 电磁兼容 电磁辐射 标准化
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论坛
• 页码范围: 227-228
• 页数: 2页
• 分类号: TN406
• 字数: 978字
• 语种: 中文

摘要

集成电路(ICs)的电磁兼容性(EMC)的测试方法正受到越来越多的关注，它的标准化测量过程的需要对不同设备一致的评估和比较。本文讨论了标准化的需求，描述了IEC TC47/SC47A工作组9(WG9)标准化关于IC的EMC测试方法之发射及抗干扰的工作过程，并概述了IC EMC的趋势。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屈省源		15	14	3.0	3.0
2	周志		1	3	1.0	1.0