一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法

• 作者: 史新明 崔小乐 李红 程作霖
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 72-76
• 页数: 5页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文

摘要

在集成电路静态老化测试中，对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量，使被测电路产生较大的漏电功耗，有利于其早期失效的发生，获得更好地老化效果。提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法。在被测电路中设置合适的固定故障，通过A T PG方法获取较小的备选测试矢量集合。基于门电路的故障相关输入状态，设计了一种度量指标，可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量。该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系，可有效降低误选测试矢量的风险。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史新明	中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所	1	1	1.0	1.0