CMOS集成电路静态功耗电流测试的重要性研究

• 作者: 宁永成
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 互补型金属氧化物晶体管 静态功耗电流 测试方法 故障
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 27-29
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.03.007

摘要

目前,国内生产厂和用户针对CMOS集成电路静态电流的测试,仍基于现有的标准和产品规范.但是,采用这些测试方法来测试合格的器件,在使用过程中却发现了某些电路静态电流超差的现象.通过比较目前国内外的标准和规范所规定的方法,分析其存在的问题,并说明了静态电流测试的重要性.通过实验进行了验证说明,并提出了解决问题的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宁永成	中国航天科技集团公司第五研究院	4	11	2.0	3.0