集成电路老化测试系统的数据通信接口设计

• 作者: 张福洪 徐春晖 胡舜峰 陈妍芬
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 集成电路 动态老化 接口设计 现场可编程逻辑门阵列
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TP274+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.13954/j.cnki.hdu.2015.06.010

摘要

新一代大规模集成电路高温动态老化系统的设计是近年来研究的热点。以现场可编程逻辑门阵列作为核心平台，通过高速数据接口，将上位机中的数据传输到老化测试芯片中，同时把老化过程中的相关数据反馈回上位机。通过FPGA软硬件平台验证表明，该数据通信接口设计能够很好地完成集成芯片的老化过程，较传统的静态老化系统有很大的改进和提高。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张福洪	杭州电子科技大学通信工程学院	110	492	11.0	16.0
2	徐春晖	杭州电子科技大学通信工程学院	3	19	3.0	3.0
3	陈妍芬	杭州电子科技大学通信工程学院	2	11	2.0	2.0
4	胡舜峰	杭州电子科技大学通信工程学院	2	13	2.0	2.0