能量色散X射线荧光分析基本参数法研究

• 作者: 戴振麟 葛良全 邹德慧
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 化学
• 关键词: 基本参数法 X射线 合金样 含量
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 146-149
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2869字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.01.037

摘要

本文介绍了EDXRF中基本参数法原理和计算方法,基于此方法用C语言设计编写了基本参数法的计算程序.通过配制的合金样用该法测定其成分含量,结果表明所测合金样的成分含量与其化学分析结果基本上一致,精确度较高,相对标准偏差不超过1.3%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	邹德慧	成都理工大学核技术与自动化工程学院	5	44	2.0	5.0
3	戴振麟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	7	53	4.0	7.0