基于动态覆盖率提高门槛值的种子计算方法

• 作者: 刘建军 谈恩民 钱文武
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 动态CIT 线性反馈移位寄存的器 种子 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 页码范围: 164-167
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

为了向可重复播种的LFSR结构提供种子,提出一种基于动态覆盖率提高门槛值(Dynamic Coverage Improvement Threshold,DCIT)的种子计算方法.使用该方法计算得到的种子进行重复播种,能够截断对提高故障覆盖率效率低的测试码序列.每个种子可以得到长度固定的伪随机测试序列.以ISCAS85基准电路实验结果表明,该方案能够在不降低故障覆盖率的前提下,减少测试矢量长度、缩短测试时间和降低测试功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程学院	53	221	8.0	11.0
2	刘建军	桂林电子科技大学电子工程学院	7	0	0.0	0.0
3	钱文武	桂林电子科技大学电子工程学院	1	0	0.0	0.0