原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
在嵌入式电子系统测试语言的研究设计过程中,需要对语言进行词法分析、语法分析和语义分析.采用基于ANTLR的LL(k)文法进行词法分析、语法分析和抽象语法树遍历时,针对LL(k)文法中不能用左递归和步长限制等问题而遇到的文法推导冲突,指出了可行的解决方案,并构建了无冲突的嵌入式电子系统的测试语言的词法分析和语法分析程序.
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文献信息
篇名 基于ANTLR的LL(k)文法消解冲突方法研究
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 LL(k)文法 ANTLR 测试语言 嵌入式电子系统
年,卷(期) 2008,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 176-179
页数 4页 分类号 TP31
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄鹤 27 270 8.0 15.0
2 乔永康 2 15 1.0 2.0
3 王竹平 13 79 4.0 8.0
4 王剑峰 10 50 4.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
LL(k)文法
ANTLR
测试语言
嵌入式电子系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
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