Realview MDK软件仿真器的测试技术研究

• 作者: 库少平 徐良平
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: Realview MDK S3C2410 PWM NAND Flash控制器 软件仿真器测试
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3687字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-623X.2008.08.005

摘要

常规的嵌入式系统开发过程中,软件的开发和测试都是在目标硬件平台初步开发完成后进行的.Realview MDK的出现,可以使嵌入式系统的软硬件协同开发、同步进行.为了使Realview MDK的软件仿真器尽可能地接近真实的硬件环境,必须对其进行严格的测试.本文以S3C2410软件仿真器的PWM接口模块和NAND Flash接口模块为例,深入地探讨其测试技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	库少平		27	181	7.0	13.0
2	徐良平		2	48	2.0	2.0