一种基于非并行BIT的测试性模型

• 作者: 张伟伟 王栋 陈健 陈圣俭
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 机内测试 故障诊断 测试性设计 信息流模型
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 页码范围: 116-118,122
• 页数: 4页
• 分类号: N945
• 语种: 中文

摘要

通过条件测试解决了在LRU间增加非并行BIT不满足信息流模型测试的一般定义的问题,同时解决了信息流反馈的问题,提高了故障隔离率.提出了基于信息流模型的集中-分布武BIT体系结构,建立了基于该体系结构的系统级BIT测试模型.通过对BIT测试模型的改进,建立了边界扫描测试模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王栋	装甲兵工程学院控制工程系	12	22	3.0	4.0
3	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0
4	陈健	装甲兵工程学院控制工程系	4	34	3.0	4.0
7	张伟伟		4	6	2.0	2.0