椭圆弯晶谱仪分析器研制

• 作者: 张世欣 徐东镪 施军 肖沙里 雷小明
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体谱仪 弯晶分析器 积分反射率 分辨率
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 982-985
• 页数: 4页
• 分类号: TH744.14
• 字数: 2671字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2008.05.017

摘要

针对激光惯性约束核聚变辐射的X射线分析,可得到关于等离子体电子密度、温度、电荷分布等重要信息.研究的X射线弯晶谱仪分析器是用来诊断X射线光谱,进而实现对激光惯性约束核聚变的控制.探讨了椭圆弯晶谱仪理论原理,分析了积分反射率和质量吸收系数.弯晶谱仪采用LiF弯晶分析器,椭圆焦距2c为1 350 mm,椭圆离心率e为0.958 6,晶体布拉格角范围为30°至60°.在此对LiF弯晶分析器的制作工艺进行详细描述.实验结果表明,该晶体分析器对X射线的分辨率(λ/Δλ)可达900以上,能够用来对激光等离子体的X射线光谱进行诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖沙里	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	123	988	14.0	24.0
2	徐东镪	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	7	76	5.0	7.0
3	雷小明	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	9	82	5.0	9.0
4	施军	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	23	105	7.0	9.0
5	张世欣	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	4	30	2.0	4.0