存储测试系统的可靠性分析

• 作者: 任鸿秋
• 来源期刊: 火力与指挥控制
• 学科: 工学
• 关键词: 存储测试 失效机理 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 试验技术
• 页码范围: 146-148
• 页数: 3页
• 分类号: TP202+1
• 字数: 3578字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0640.2008.04.042

摘要

可靠性分析对提高系统的可靠性有着极其重要的意义.针对存储测试系统存在的失效现象,从半导体器件本身、焊接工艺和封装工艺进行了失效机理分析,提出了相应的改进措施.在此基础上,结合本系统的实际使用要求,提出了半导体器件的可靠性筛选规程.阐述内容对其他电路系统可靠性的提高也具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任鸿秋	太原理工大学电气与动力工程学院	19	43	4.0	5.0