双间隙耦合腔中自激振荡问题的分析和模拟

• 作者: 丁耀根 全亚民 王树忠
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 多注速调管 双间隙耦合腔 自激振荡 高次模式 电子电导
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 高功率微波
• 页码范围: 1699-1703
• 页数: 5页
• 分类号: TN122
• 字数: 3216字
• 语种: 中文

摘要

建立了双间隙耦合腔中高次模式小信号电子电导计算模型,使用该模型和ISFIEL3D电磁场软件模拟的高次模式电场分布图分析了双间隙耦合腔中高次模式的自激性质.由3维粒子模拟软件对双间隙耦合腔自激模拟显示实际结构中存在高次模式3.17 GHz和3.99 GHz自激,验证了使用该方法分析双间隙耦合腔中高次模式自激性质的合理性.并通过对热测数据的分析说明实际结构中确实存在相应的模式自激并伴随吸收腔和耦合环发热现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁耀根	中国科学院电子学研究所	112	1050	18.0	26.0
2	王树忠	中国科学院电子学研究所	24	221	9.0	14.0