NI LabVIEW FPGA硬件新增仪器级I/O——针对PXI测试系统,新型NI FlexRIO产品系列有效提高了基于FPGA的I／O性能

• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: 美国国家仪器有限公司 硬件在环仿真 I/O性能 PXI平台 FPGA 测试系统 LABVIEW Instruments
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 页码范围: 15
• 页数: 1页
• 分类号: TP311.56

摘要

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日针对PXI平台，推出了一个全新的、开放式的、基于FPGA的产品系列。通过NIFlexRIO，工程师可以在基于PXI的FPGA硬件上添加自定义信号处理算法。同时，利用可互换的适配器模块，他们可以直接将FPGA连接到仪器级I／O，或者创建自定义的前端硬件以满足客户实际应用需求。利用FlexRIO的这些性能，工程师们可以在设计和测试许多复杂的电子设备时，根据需要使用在线处理、硬件在环仿真和协议识别测试等。