密度泛函方法对SiO分子基态(X 1 Σ+)势能函数的研究

• 作者: 刘玉芳 吕文静 孙金锋 张现周 徐国亮 朱遵略 肖小红
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: B3P86 SiO 势能函数 光谱常数
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 7577-7580
• 页数: 4页
• 分类号: O56
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.12.027

摘要

利用密度泛函B3P86方法,分别选用STO-3G,D95**,6-311G,6-311 + + G,6-311 + + G**,cc-PVTZ基组对SiO分子基态(X 1 Σ+)进行结构优化计算.通过比较得出,cc-PVTZ基组为对SiO分子基态(X 1 Σ+)进行结构优化最优基组的结论.使用密度泛函B3P86方法,选用cc-PVTZ基组进行单点能扫描,用正规方程组拟合SiO分子基态(X 1 Σ+)的Murrell-Sorbie函数,得到解析势能曲线.最后,由得到的解析势能函数计算了相对应的光谱常数(Be,αe,ωe和ωeχe),并与实验值进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘玉芳	河南师范大学物理与信息工程学院	156	576	11.0	17.0
2	孙金锋	河南师范大学物理与信息工程学院	108	436	12.0	17.0
3	朱遵略	河南师范大学物理与信息工程学院	88	316	9.0	15.0
4	张现周	河南师范大学物理与信息工程学院	73	229	8.0	12.0
5	徐国亮	河南师范大学物理与信息工程学院	29	135	6.0	10.0
6	肖小红	河南师范大学物理与信息工程学院	4	24	3.0	4.0
7	吕文静	河南师范大学物理与信息工程学院	3	30	2.0	3.0