嵌入式计算机的BIT设计与实现

• 作者: 刘少雄 喻卫东
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 机内测试 测试用例
• 年，卷（期）: 2008,（z1）
• 所属期刊栏目: 产品设计
• 页码范围: 115-116,119
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 字数: 2523字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2008.z1.042

摘要

依据嵌入式计算机组成特点,在可测试性设计中采用层次式测试硬件结构,通过分布式测试控制管理,实现从器件级、模块级到子系统级、系统级的逐级测试.在BIT测试中,以CPU测试为例解析了测试用例数据、用例过程、执行控制和判决的组织与实现. .

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘少雄		2	10	2.0	2.0
2	喻卫东		7	25	2.0	4.0