原文服务方: 科技与创新       
摘要:
由于制造误差的影响,任何的旋转件都会产生动不平衡,进而产生振动对设备造成危害.大多数的动平衡测试系统由于工作环境中各种干扰同时存在,加之系统设计复杂,芯片抗干扰能力差,测量精度不高.所以本文介绍了一种采用高度集成的高性能处理器芯片C8051F020来简化系统硬件复杂度,提高系统抗干扰能力,采用精度更高的FFT算法,提高解算精度.经过实验验证,系统抗干扰能力和精度得到了提高.
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文献信息
篇名 基于C8051F的动平衡测试系统
来源期刊 科技与创新 学科
关键词 动平衡 C8051F 测试
年,卷(期) 2008,(20) 所属期刊栏目 单片机开发与应用
研究方向 页码范围 159-160
页数 2页 分类号 TP2064
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.20.062
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 苏维嘉 辽宁工程技术大学机械工程学院 58 305 10.0 15.0
2 LI Shu-xin 辽宁工程技术大学机械工程学院 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
动平衡
C8051F
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科技与创新
半月刊
2095-6835
14-1369/N
大16开
2014-01-01
chi
出版文献量(篇)
41653
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202805
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