纳米磁性膜微波磁谱测量微带线系统的优化设计

• 作者: 安维 张秀成 江建军 邓联文 陈鸿飞
• 来源期刊: 纳米技术与精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜磁谱 扫频测量 微带线短路法 测量夹具 优化设计
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 精密测量
• 页码范围: 333-336
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 字数: 2634字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6030.2009.04.011

摘要

磁性薄膜微波磁导率的扫频测量对研究开发高频软磁材料和薄膜吸波材料都具有十分重要的意义.围绕微波磁谱测量微带线系统的优化设计,主要研究微带线短路法测量薄膜磁谱使用的测量夹具的设计与制作.首先根据测试要求确定夹具设计方案,再利用高频电磁场仿真软件HFSS对微带线结构夹具进行性能仿真与设计优化,最后按设计要求制作微带线结构夹具.并对测试效果进行了分析评价.结果表明,设计开发的微带线结构夹具能满足0.05-5 GHz频段磁导率的测量精度要求,反射系数S11的测量误差小于1.4%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建军	华中科技大学电子科学与技术系	105	993	18.0	25.0
2	邓联文	中南大学物理科学与技术学院	60	206	7.0	8.0
3	张秀成	华中科技大学电子科学与技术系	23	363	11.0	18.0
4	陈鸿飞	中南大学物理科学与技术学院	2	7	2.0	2.0
5	安维		3	13	2.0	3.0