TEM纳米尺度石墨标样的制备

• 作者: 娄艳芝 柳得橹
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: TEM放大校准 纳米长度标样 石墨晶体
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 分析测试方法
• 页码范围: 131-133
• 页数: 3页
• 分类号: TB383
• 语种: 中文

摘要

透射电镜的长度标尺或公称放大倍数是判断试样中组织细节尺寸的依据,需要应用纳米级长度标样进行校准.本文介绍了一种用石墨制备透射电镜专用纳米尺度标样的方法,对石墨的X射线衍射分析以及对石墨标样的TEM高分辨像和电子衍射分析表明,标样中石墨的高分辨像为(002)晶面的点阵像,其晶面间距为0.342 nm,可作为纳米尺度的参照材料.本文对使用纳米尺度标样校正TEM标尺的基本方法进行了简要讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柳得橹	北京科技大学材料科学与工程学院	44	736	14.0	26.0
2	娄艳芝		17	51	4.0	6.0