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摘要:
利用光学传输矩阵理论对掺杂1维光子晶体的缺陷模进行了研究.计算和分析了缺陷层折射率、缺陷层厚度与缺陷峰的关系.得出结论:随着缺陷层厚度的增大,缺陷峰波长呈线性增加,但是当缺陷层厚度增加到一定值时,缺陷峰的个数也将不断增加;缺陷层折射率也与缺陷峰波长有线性正比关系.从而提出了一种在微波领域测量介质折射率和介电常数的有效方法.
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内容分析
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文献信息
篇名 1维光子晶体缺陷模
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 1维光子晶体 传输矩阵法 缺陷模 介质折射率 介电常数
年,卷(期) 2009,(5) 所属期刊栏目 粒子束技术
研究方向 页码范围 767-769
页数 3页 分类号 O436
字数 1137字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李志全 燕山大学电气工程学院 201 1342 17.0 24.0
2 康莉莉 燕山大学电气工程学院 6 40 4.0 6.0
3 苏风燕 燕山大学电气工程学院 2 14 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
1维光子晶体
传输矩阵法
缺陷模
介质折射率
介电常数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
出版文献量(篇)
9833
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61664
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