La0.7-xGdxSr0.3MnO3(x=0.20,0.30,0.40,0.50)的TCR研究

• 作者: 严国清 宋启祥 王桂英 蔡之让
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 电阻温度系数 额外磁性耦合
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 306-310
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

研究了La位Gd掺杂对La0.7-xGdxSr0.3MnO3(x=0.20,0.30,0.40,0.50)体系的电阻温度系数(TCR)的影响.实验结果表明:Gd掺杂将引起电阻率曲线的急剧变化,导致出现大的TCR;而且随Gd掺杂的增加,TCR在x=0.30出现峰值,然后随掺杂量增加逐步降低.体系出现大的TCR,来源于Gd掺杂引起的额外磁性耦合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡之让		33	126	7.0	8.0
2	宋启祥		41	72	4.0	6.0
3	严国清		34	108	7.0	8.0
4	王桂英		18	57	4.0	7.0