基于双谱分析的毫米波多普勒引信目标检测

• 作者: 王新会 马秋华
• 来源期刊: 制导与引信
• 学科: 工学
• 关键词: 毫米波 多普勒引信 目标探测 切片 谱分析
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: TJ430.1
• 字数: 2453字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0576.2009.02.010

摘要

目标检测是毫米波多普勒引信信号处理的重要内容,在目标检测过程中,传统功率谱等技术不能充分揭示隐含于目标回波中的高阶统计信息,不能消除噪声和杂波的影响,不利于目标特征分析及检测,因此提出了基于双谱分析的毫米波多普勒引信目标检测技术,利用双谱及双谱对角切片进行特征分析及优化,通过对实测毫米波多普勒引信数据进行理论分析和试验仿真,结果表明采用双谱分析的毫米波多普勒引信目标检测方法有效可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马秋华	西安机电信息技术研究所机电工程与控制国家级重点实验室	8	35	3.0	5.0
2	王新会	西安机电信息技术研究所机电工程与控制国家级重点实验室	2	1	1.0	1.0