光缆护套老化性能的研究

• 作者: 杨晓荣 韦祖国
• 来源期刊: 网络电信
• 学科: 工学
• 关键词: 光缆护套 抗张强度 断裂伸长率
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 分类号: TN818

摘要

本试验的主要目的是研究光缆护套工序中设定不同的温度和速度对护套老化性能的影响，为护套材料的选用和加工提供科学的依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦祖国		4	12	1.0	3.0
2	杨晓荣		3	0	0.0	0.0