PbZrxTi1-xO3多层膜中与极性缺陷复合体相关的介电驰豫

• 作者: 孙璟兰 张婷 戴宁 朱大明 胡古今 褚君浩
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: PbZr0.38Ti0.62O3多层膜 极性缺陷复合体 介电驰豫
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 321-324,329
• 页数: 5页
• 分类号: O469
• 字数: 1578字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2009.05.001

摘要

研究了由致密PbZr0.38Ti0.62O3和多孔PbZr0.38Ti0.62O3 膜层交替排列组成的多层膜在温度为420K时的介电行为.在102~106 Hz的频率范围,观测到两种截然不同的介电驰豫.位于低频区的介电损耗峰归因于空间电荷极化.通过俄歇电子谱和电子顺磁共振谱分析,初步判定遵从Arrhenius 律、热激活能为0.49 eV的高频介电驰豫则起源于氧空位V¨0和Ti3+ 形成的极性缺陷复合体V¨0-Ti3+对交变电场的响应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴宁	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	55	315	11.0	15.0
2	张婷	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	55	447	13.0	20.0
3	胡古今	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	11	25	3.0	4.0
4	褚君浩	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	103	650	13.0	22.0
5	孙璟兰	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	13	57	4.0	7.0