利用X射线衍射技术分析LaNi_5氚老化效应

• 作者: 帅茂兵 敬文勇 李嵘 王勤国
• 来源期刊: 核化学与放射化学
• 学科: 工学
• 关键词: LaNi_5 ~3He 氚老化 XRD
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 250-252
• 页数: 3页
• 分类号: TL817.1
• 字数: 1637字
• 语种: 中文

摘要

利用覆膜法对长期贮存氚的LaNi_5进行了XRD分析.经过实验发现,老化后的LaNi_5的谱峰比新鲜的LaNi_5存在明显的展宽,而经过高温除He处理后,又恢复到新鲜的LaNi_5水准,氚衰变形成的~3He在晶格中居留并在其中形成部分位错亚结构,这可能是导致LaNi_5 XRD衍射峰宽化的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	帅茂兵		16	77	6.0	7.0
2	敬文勇		3	4	1.0	1.0
3	王勤国		4	13	2.0	3.0
4	李嵘		3	5	2.0	2.0