微带线直角弯曲最佳斜切率研究

• 作者: 万连城 吴保义 姚志成 路宏敏
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 微带线 直角弯曲 45°斜切 最佳斜切率
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 885-889
• 页数: 5页
• 分类号: TN817
• 字数: 2841字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2009.05.023

摘要

PCB印制线直角弯曲引起的微带线特性阻抗不连续性严重影响高速电路信号传输质量.基于微带线结构参数及相对介电常数对印制线直角弯曲45度外斜切最佳斜切率M影响的数值分析结果和最小二乘法原理,应用MATLAB对数值结果进行曲线拟合,提出了M与印制线宽厚比w/h的函数表达式,以及50Ω特性阻抗微带线M与相对介电常数的线性关系.结果显示: 具有最佳斜切率的印制线直角弯曲45度外斜切能够很好地保障最佳信号传输质量; 相对介电常数和印制线厚度t对M影响小,而宽厚比w/h对M影响显著.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	路宏敏	西安电子科技大学电子工程学院	53	300	10.0	14.0
2	万连城	西安电子科技大学电子工程学院	18	73	5.0	8.0
3	姚志成		3	30	3.0	3.0
4	吴保义	西安电子科技大学电子工程学院	1	17	1.0	1.0