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电子产品可靠性与环境试验期刊
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行波管慢波结构抗振可靠性研究
行波管慢波结构抗振可靠性研究
作者:
冯先龙
宋芳芳
恩云飞
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
行波管
慢波结构
振动分析
有限元分析
摘要:
慢波结构为行波管的核心部件之一.为了评价行波管的慢波结构振动可靠性,整合了慢波结构有限元分析和简化模型的数学推导,得到了慢波结构的固有频率和振型,再研究慢波结构电性能与结构尺寸的关系,以及自然振动频率公式的内在联系.最后,比较分析四者的关系,从主动避振的角度,提出了优化慢波结构的设计方法,以提高产品的抗振性能.
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文献信息
篇名
行波管慢波结构抗振可靠性研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
行波管
慢波结构
振动分析
有限元分析
年,卷(期)
2009,(6)
所属期刊栏目
计算机科学与技术
研究方向
页码范围
19-22
页数
4页
分类号
TN124
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2009.06.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
恩云飞
12
57
5.0
7.0
2
冯先龙
2
3
1.0
1.0
4
宋芳芳
3
24
2.0
3.0
传播情况
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(/次)
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版权信息
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2016(1)
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研究主题发展历程
节点文献
行波管
慢波结构
振动分析
有限元分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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