解析AMS 2750D《高温测量》

• 作者: 张莉 李克
• 来源期刊: 热处理技术与装备
• 关键词: 温度传感器 系统精度测试 温度均匀性测试
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 9-18
• 页数: 10页
• 分类号: T65
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-4971.2009.03.003

摘要

通过对宇航材料规范AMS 2750D<高温测量>解析,系统介绍温度传感器、使用的仪器、热处理设备、系统精度测试、温度均匀性测试等方面的规定及要求.重点阐述Nadcap认证中如何完成SAT、TUS测试,有助于热处理行业顺利通过Nadcap审核,为国际贸易加工奠定坚实基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张莉	东华大学机械工程学院	21	98	6.0	9.0
2	李克		9	34	3.0	5.0